(Proyecto) Modelaje DFT y caracterización de propiedades ópticas y eléctricas de películas delgadas de materiales bidimensionales (2D), para fabricación de dispositivos ópticos multicapas, aplicados en EUV nanolitografía.
(Proyecto) Modelaje DFT y caracterización de propiedades ópticas y eléctricas de películas delgadas de materiales bidimensionales (2D), para fabricación de dispositivos ópticos multicapas, aplicados en EUV nanolitografía.
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Date
2026
Authors
Kety Mayelin Jiménez Tejeda
Nelphy de la Cruz
Omar Pérez Veloz
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Abstract
Description
Objetivo General:
Determinar las propiedades eléctricas y ópticas de nuevas estructuras 2D para determinar sus posibles aplicaciones en el campo de semiconductores o para el diseño de dispositivos ópticos necesarios para la nanolitografía NGL.
Objetivos específicos:
1. Obtener mediante DFT la energía de Band-Gap, las constantes dieléctricas y el índice complejo de refracción de las estructuras 2D propuestas.
2. Simular la transmisión, reflexión y absorción de películas delgadas de una capa de las estructuras propuestas.
3. Diseño de estructuras multicapas con buen rendimiento en el intervalo de radiación desde 2.3 hasta 8 nm.