(Proyecto) Modelaje DFT y caracterización de propiedades ópticas y eléctricas de películas delgadas de materiales bidimensionales (2D), para fabricación de dispositivos ópticos multicapas, aplicados en EUV nanolitografía.

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dc.contributor.authorKety Mayelin Jiménez Tejeda
dc.contributor.authorNelphy de la Cruz
dc.contributor.authorOmar Pérez Veloz
dc.date.accessioned2026-05-01T15:40:59Z
dc.date.available2026-05-01T15:40:59Z
dc.date.issued2026
dc.descriptionObjetivo General: Determinar las propiedades eléctricas y ópticas de nuevas estructuras 2D para determinar sus posibles aplicaciones en el campo de semiconductores o para el diseño de dispositivos ópticos necesarios para la nanolitografía NGL. Objetivos específicos: 1. Obtener mediante DFT la energía de Band-Gap, las constantes dieléctricas y el índice complejo de refracción de las estructuras 2D propuestas. 2. Simular la transmisión, reflexión y absorción de películas delgadas de una capa de las estructuras propuestas. 3. Diseño de estructuras multicapas con buen rendimiento en el intervalo de radiación desde 2.3 hasta 8 nm.
dc.description.sponsorshipFONDOCyT
dc.identifier.urihttps://repositoriovip.uasd.edu.do/handle/123456789/1745
dc.title(Proyecto) Modelaje DFT y caracterización de propiedades ópticas y eléctricas de películas delgadas de materiales bidimensionales (2D), para fabricación de dispositivos ópticos multicapas, aplicados en EUV nanolitografía.
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